GEOTRUST SSL CERTIFICATE
Titre : | Determination des profondeurs de jonctions de transistors bipolairs planars par microscopie electronique a balayage (M.E.B) |
Auteurs : | Zekaoui Abdelbaki, Auteur ; Dahmani.A, Directeur de thèse ; Hadjadj Mohammed, Auteur |
Type de document : | texte imprimé |
Editeur : | Algerie: univ saida - Dr.moulay tahar, 2003 |
Format : | 83p / Figures&tableaux / 29 cm |
Note générale : | Bibliographie |
Langues: | Français |
Catégories : | |
Note de contenu : |
-Introduction gènèrale
01-La jonction PN 02-Technologie planar d'un transistor bipolaire 03-Le microscope èlectronique à balayage ( M.E.B) 04-L'interaction èlectron-matière 05-Techniques expèrimentales et rèsultats de l'E.B.I.C. |
Exemplaires (1)
Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
---|---|---|---|---|---|
TECT00304 | T.EN.IN00095 | Périodique | Salle des Thèses | Electronique | Disponible |